IEC60950 형태 2C와 IEC 62368-1 형태 V.3 테스트 핑거 탐침 텔레콤 테스트 프로브

IEC60950 형태 2C와 IEC 62368-1 형태 V.3 테스트 핑거 탐침 텔레콤 테스트 프로브

표준 종목 (IEC 62151 4.2.2.1) :

4.2.2.1 접근성
장비는 너무 건축되어서 사용자 액세스 AREAS에 TNV의 노출된 부분과의 접촉에 대한 적절한 보호 - 1, TNV가 - 있을 것입니다 2와
TNV - 저 접근 를 제외한 CIRCUITS가 다음에 허락하는 3 :                                                 테스트 핑거 탐침
- 테스트 프로브에 의해 접촉될 수 없는 연결기의 접촉 (형태 3) ;
- 4.2.2.2에 따른 배터리 격실의 내부에서 벌거벗은 도전 성 부분 ;
- TNV - 1의 벌거벗은 도전 성 부분
PROTECTIVE 접지 터미널에 연결되는 CIRCUITS ;
어떤 요구인 서비스의 접근 AREAS도 TNV - 1, TNV - 2 또는 TNV - 3 CIRCUITS에 대한 접근에 관하여 상세화되지 않고, 아무리 HAZARDOUS - LIVE - 참석할지도 모르는 도체 물질에 의한 고의가 아닌 가교가 가망없도록 부품이 위치하거나 조심성 있습니다.                   테스트 핑거 탐침
이동이 서비스를 위해 필요하면 4.2.2.1의 순응성에 요구된 어떠한 경비요원들도 쉽게 제거할 수 있고 대치할 수 있습니다.
제한된 접근 LOCATIONS에 어떤 요구조건도 특정한 채 TNV - 1, TNV에 대한 접근을 이보딩 - 2 또는 TNV - 3 CIRCUITS .
그러나, HAZARDOUS - LIVE - 예를 들면 서비스 요원에 의해 사용된 TOOLS 또는 테스트 프로브에 의해 TNV CIRCUITS에 대한 우연한 숏팅은 가망없도록 부품은 위치하거나 보호받습니다. 이동이 서비스를 위해 필요하면 4.2.2.1으로 옴플라이언스에 요구된 어떠한 경비요원들도 쉽게 제거할 수 있고 대치할 수 있습니다.                 테스트 핑거 탐침
순응성은 적절한 장비 표준 중에) 순응성 부분과 테스트 프로브, 형태 3에 상세화되는 것으로서 적용되는 것으로 검사에 의해, 측정에 의하고 테스트 핑거 (IEC 61032, 테스트 프로브 비)에 의하여 확인됩니다.

표준 :IEC 62368-1:2018 조항 5.3.2와 형태 V.3, IEC60950 형태 2C, IEC60065에 있어서 : 2014가 비를 부가합니다, 테스트가 탐사합니다. IEC 62151 형태 3과 UL6500에게 형태 B.1을 부합시키기.

애플리케이션 :그것은 그들이 충분한 보호를 갖 보기 위한 정보 기술 장치의 TNV 회로의 노출된 부분을 위해 사용됩니다.

테스트 샘플 :정보 기술 장치.

특징 :나일론 핸들 + 스테인레스 강 탐침.

매개 변수 :

참고를 위한 사진 :